PROUCTS LIST
NEWS
質(zhì)構(gòu)儀探頭-食品探頭 TA/MPT
更新時(shí)間：2024-10-27
訪問量：911
產(chǎn)品型號(hào)：
產(chǎn)品特點(diǎn)：質(zhì)構(gòu)儀探頭-食品探頭 TA/MPT該裝置由環(huán)繞錐體的18個(gè)鋸齒狀缺口組成，樣品可自動(dòng)滾入缺口進(jìn)入測(cè)試位置。穿透實(shí)驗(yàn)可穿透整個(gè)豆粒，并對(duì)刺破強(qiáng)度和穿刺力進(jìn)行測(cè)量還可以用于測(cè)量其它豆類及糖果樣品。該裝配用于大豆等顆粒狀的樣品，可獲得硬度、破裂強(qiáng)度等參數(shù)。
質(zhì)構(gòu)儀探頭-食品探頭 TA/MPT的詳細(xì)資料：
質(zhì)構(gòu)儀探頭-食品探頭 TA/MPT
該裝置由環(huán)繞錐體的18個(gè)鋸齒狀缺口組成，樣品可自動(dòng)滾入缺口進(jìn)入測(cè)試位置。穿透實(shí)驗(yàn)可穿透整個(gè)豆粒，并對(duì)刺破強(qiáng)度和穿刺力進(jìn)行測(cè)量還可以用于測(cè)量其它豆類及糖果樣品。該裝配用于大豆等顆粒狀的樣品，可獲得硬度、破裂強(qiáng)度等參數(shù)。
質(zhì)構(gòu)儀探頭-食品探頭 TA/MPT
該裝置由環(huán)繞錐體的18個(gè)鋸齒狀缺口組成，樣品可自動(dòng)滾入缺口進(jìn)入測(cè)試位置。穿透實(shí)驗(yàn)可穿透整個(gè)豆粒，并對(duì)刺破強(qiáng)度和穿刺力進(jìn)行測(cè)量還可以用于測(cè)量其它豆類及糖果樣品。該裝配用于大豆等顆粒狀的樣品，可獲得硬度、破裂強(qiáng)度等參數(shù)。
質(zhì)構(gòu)儀探頭-食品探頭 TA/MPT
該裝置由環(huán)繞錐體的18個(gè)鋸齒狀缺口組成，樣品可自動(dòng)滾入缺口進(jìn)入測(cè)試位置。穿透實(shí)驗(yàn)可穿透整個(gè)豆粒，并對(duì)刺破強(qiáng)度和穿刺力進(jìn)行測(cè)量還可以用于測(cè)量其它豆類及糖果樣品。該裝配用于大豆等顆粒狀的樣品，可獲得硬度、破裂強(qiáng)度等參數(shù)。
| 如果你對(duì)質(zhì)構(gòu)儀探頭-食品探頭 TA/MPT感興趣，想了解更詳細(xì)的產(chǎn)品信息，填寫下表直接與廠家聯(lián)系： |
